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GB/T6672台式高精测厚仪 可测薄膜、箔片等

更新时间:2021-04-15

简要描述:

DRK203 GB/T6672台式高精测厚仪 可测薄膜、箔片等,适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品关键词:测厚仪,薄膜测厚仪,机械接触式薄膜测厚仪。

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DRK203 GB/T6672台式高精测厚仪 可测薄膜、箔片等,适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品关键词:测厚仪,薄膜测厚仪,机械接触式薄膜测厚仪。

 

【依据标准】

DRK203 GB/T6672台式高精测厚仪 可测薄膜、箔片等,符合以下标准:GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777

【技术参数】
1. 测量范围:0~3mm
2. 分辨率:0.1μm    精度:1级
3. 测量速度:5次/min(可调);测头移动速度:3mm/s(可调)

4. 接触面积:28mm (直径6mm)  非标可定制

【产品特点】
1. 接触式测量
2. 测头自动升降
3. 自动测量模式
4. 数据实时显示、自动统计、打印
5. 显示最大值、最小值、平均值和统计偏差
6. 标准接触面积、标定压强
7. 标准量块标定测量参数

8. 数据分析功能

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